学术报告芯片测试技术及其产学研合作
(编辑：内蒙古工业大学 日期：2016年06月21日 浏览：次
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题目：芯片测试技术及其产学研合作
报告人：Jeff Schulze
报告时间：2016年6月17日下午4点
报告地点：工程技术楼A座216
报告人简介：
Jeff Schulze，系统应用工程师，毕业于California State Polytechnic University. 从事半导体芯片测试20余年，目前就职于Advantest公司，曾经就职于Broadcast Microwave Services, ClariPhY Communications, and Maxlinear Inc. 擅长于机器人电气控制系统的系统可靠性测试、数字芯片测试，混频和射频信号的测试。
欢迎感兴趣的全校师生参加。
机械学院
2016年6月17日
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